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2018

Know how your circuit behaves across process variation before silicon tells you, with Monte Carlo-accurate results up to 30X faster.

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8 years ago

SPICE Model Generation by Machine Learning

by Thomas Blaesi

It was 1988 when I got into SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) while I was characterizing a 1.5 μm Standard cell library developed by

8 years ago

옥타 시리얼 플래시 캐시를 사용한 메모리 개선

2018년 12월 19일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) 일반적인 IoT 시스템에 마이크로프로세서 코드를 저장하고 실행하기 위한 다양한 방법에 대해 논의합니다.

8 years ago

나노소자의 밴드구조 영향

2018년 12월 12일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) NEMO는 NEGF (Non-Equilibrium Greens Function Formalism)와 원자의 강력한 결합을 오늘날의 최첨단 소자 모델링으로 확립하였습니다. NEMO의 연구 개발은 항상 실험적인 소자 검증과 연계되었습니다. 이번

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8 years ago

플렉서블 전자제품을 위한 SPICE 모델링

2018년 12월 7일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) 플렉서블 전자 회로 설계 및 물리적 검증에서 기계적 변형을 고려하여 TFT 및 MOSFET SPICE 모델을 처리하는 이론 및 방법을 소개합니다.

8 years ago

MIPI I3C

2018년 11월 30일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) MIPI Alliance – I3C의 새로운 표준에 대한 논의합니다. I2C와 SPI 등의 기존 인터페이스를 통합 및 확장하고, 강력한 기능을 새로 추가하여 모바일, 오토모티브, IOT

8 years ago

Process Variation, Alignment and BEOL Effects on Circuit Level Performance

As process nodes continue to shrink, the requirement for additional physics is gradually creeping into each stage of the design process. By way of illustration, TCAD simulations are becoming more

8 years ago

Touch Panel Capacitance Extraction in Hipex Full Chip Extraction Tool Using Stellar Field Solver

The previously standalone Stellar GUI based field solver tool for parasitic extraction is now integrated into Hipex (Silvaco’s full chip extraction tool) in Expert GUI. In Hipex, user can choose

8 years ago

Dynamic Analysis of Liquid Crystal Pixels

We have demonstrated in previous articles the static electrical and optical simulation of LC cells [1][2]. The last piece of the function for a comprehensive analysis of an LC pixel

8 years ago

Hints, Tips and Solutions – Adding An Impurity to a Diffusion Model and Enable Diffusion of a New Impurity in a Specific Material

OBJECTIVE Add an impurity (H) to a material (silicon) for a diffusion model (Fermi). The description below refers to Victory Process version 7.27.X.

8 years ago

VarMan을 사용한 메모리 통계 특성화 솔루션

2018년 9월 21일 | 2:00am-2:30am (한국 시각) VarMan은 Variability eXplorer, 하이-시그마 Yield Estimation, 하이-시그마 Performance Limit, eXtreme Memory Analysis 등을 포함합니다. 높은 정확성을 유지하면서도 메모리 특성화와 품질 보증에 필요한 시뮬레이션