Yearly Archives: 2018
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2018
Know how your circuit behaves across process variation before silicon tells you, with Monte Carlo-accurate results up to 30X faster.
8 years ago
SPICE Model Generation by Machine Learning
by Thomas Blaesi
It was 1988 when I got into SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) while I was characterizing a 1.5 μm Standard cell library developed by
8 years ago
Octalシリアル・フラッシュ・キャッシュを使用したエッジデバイスでのメモリ性能の向上
本ウェビナでは、代表的なIoTシステム上でマイクロプロセッサ・コードを格納、実行するために利用可能な各種ソリューションについて考察します。
8 years ago
ナノデバイスにおけるバンド構造の影響 – NEMO5の使用事例
本ウェビナでは、ナノメータ・スケールにおけるバンド構造の変更方法および、デバイスのパフォーマンスの結果について、分かりやすく説明します。
8 years ago
フレキシブル・エレクトロニクス向けSPICEモデリング
本ウェビナでは、まず原理を説明し、それから機械的歪みがフレキシブル・エレクトロニクスの回路設計および物理検証に与える影響を考慮するために、TFTおよびMOSFET SPICEモデルを拡張、カスタマイズする実践的テクニックについて説明します。
8 years ago
MIPI I3C
本ウェビナでは、MIPI Allianceの新しい規格であるI3Cについて考察します。I3Cは、従来のI2C、SPIインタフェースを統合、拡張するもので、最新のモバイル、自動車、IoTアプリケーションに対応する強力な機能が追加されています。
8 years ago
Process Variation, Alignment and BEOL Effects on Circuit Level Performance
As process nodes continue to shrink, the requirement for additional physics is gradually creeping into each stage of the design process. By way of illustration, TCAD simulations are becoming more
8 years ago
Touch Panel Capacitance Extraction in Hipex Full Chip Extraction Tool Using Stellar Field Solver
The previously standalone Stellar GUI based field solver tool for parasitic extraction is now integrated into Hipex (Silvaco’s full chip extraction tool) in Expert GUI. In Hipex, user can choose
8 years ago
Dynamic Analysis of Liquid Crystal Pixels
We have demonstrated in previous articles the static electrical and optical simulation of LC cells [1][2]. The last piece of the function for a comprehensive analysis of an LC pixel
8 years ago
Hints, Tips and Solutions – Adding An Impurity to a Diffusion Model and Enable Diffusion of a New Impurity in a Specific Material
OBJECTIVE Add an impurity (H) to a material (silicon) for a diffusion model (Fermi). The description below refers to Victory Process version 7.27.X.
8 years ago
VarManによるメモリの統計的キャラクタライゼーション・ソリューション
VarManには、Variability eXplorer、high-sigma Yield Estimation、high-sigma Performance Limit、eXtreme Memory Analysisを含むツールのパッケージソフトが含まれます。これらのユニークなツールは、メモリのキャラクタライゼーションと品質保証に必要なシミュレーション回数を大幅に減らしながらも、高い精度を維持することで、ばらつきを加味した設計およびキャラクタライゼーションを可能にします。