Monthly Archives: April 2016
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April 2016
Know how your circuit behaves across process variation before silicon tells you, with Monte Carlo-accurate results up to 30X faster.
10 years ago
메모리 기술에서의 물리적 식각 시뮬레이션
2016년 4월 29일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) 이번 시간에 메모리 기술을 중심으로, 물리적 식각을 시뮬레이션하기 위한 방법, 메커니즘 및 모델을 소개합니다.
11 years ago
실리콘 전력 소자의 효율적인 3D TCAD 시뮬레이션
2016년 4월 15일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) 이번 시간에 새로운 통합 3D TCAD 플랫폼을 소개하고, 수직 LOCOS 트랜지스터 및 멀티셀 IGBT 구조의 전류 필라멘트의 3D 시뮬레이션에 적용합니다.
11 years ago
Soft Error
A soft error in the context of this article, can be defined as an unintended change in electrical state of a device or circuit, that has an origin, external to
11 years ago
Hints, Tips and Solutions – Types of 3D Delaunay Shape Refinement
Q: What Types of 3D Delaunay Shape Refinement can be used in Victory Process? A. The Victory Process cell mode Delaunay 3D device meshing algorithm already includes various TCAD-based local