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April 2016

Know how your circuit behaves across process variation before silicon tells you, with Monte Carlo-accurate results up to 30X faster.

10 years ago

3Dメモリにおける物理エッチングのシミュレーション

このウェビナーでは、特に3Dメモリに焦点を当てて、物理エッチングのシミュレーション方法、メカニズム、モデルについての深い理解を提供します。

11 years ago

シリコン・パワー・デバイスの効率的な3次元TCADシミュレーション

このウェビナーでは、統合型3次元TCADプラットフォームによる縦型LOCOSトランジスタのシミュレーション、ならびにマルチセルIGBTにおける電流フィラメントについて解説します。

11 years ago

Soft Error

A soft error in the context of this article, can be defined as an unintended change in electrical state of a device or circuit, that has an origin, external to

11 years ago

Hints, Tips and Solutions – Types of 3D Delaunay Shape Refinement

Q: What Types of 3D Delaunay Shape Refinement can be used in Victory Process? A. The Victory Process cell mode Delaunay 3D device meshing algorithm already includes various TCAD-based local