由 Gateway 驱动、用于原理图驱动版图的版图编辑器。

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 电路仿真 > InVar

InVar:面向模拟与混合信号设计的 IR 压降及热分析

仿真正常的模块仍可能出现电源压降或过热。
InVar 可在版图仍能修改时指出问题位置。

InVar 的功能

InVar 是 Silvaco 面向模拟与混合信号 IC 的 IR 压降和热分析工具,可直接用于晶体管级设计,包括存储器、标准单元、定制数字模块、高速 I/O 和模拟电路。分析范围从单个模块扩展至全芯片。它将温度与压降视为同一个问题,因此每项结果都已包含另一因素的影响。

功能

在准备流片的版图上,
综合电源压降与温度的相互影响进行检查。

IR 压降分析

查看从顶层连接端到最后一个晶体管的每个供电网络。瞬态和静态检查可在同一次运行中覆盖信号和电源网络,InVar EM/IR 可直接读取晶圆厂的电迁移规则。层次化模块模型可降低运行时间和内存需求,同时保留平坦运行的精度。

热分析

无需预先选择固定工艺角,即可获得芯片上每个器件和每段布线的温度。分析规模可从几个晶体管扩展至全芯片。Silvaco 已在实验室和晶圆代工厂验证其热分析精度。

方法

InVar 同时仿真功耗、压降和温度。这一专利方法运行于采用并行处理的真正 SPICE 引擎,无需预先进行任何特征化。对于层次化设计,宏模型模块将电压和温度变化沿层次结构向上传递,在一次运行中获得全芯片结果。

覆盖范围

支持所有具有相应工艺文件的工艺节点,包括 FinFET。适用范围涵盖处理器、有线和无线网络芯片、传感器、大电流 IC 及显示器。

协同工具

InVar 读取行业标准设计文件,并输出
其他工具可接收的结果。

接收输入

输入晶体管级设计及其供电网络,包括 GDSII 版图、带 DSPF 寄生参数的 SPICE 网表、ITF 或 iRCX 工艺文件,以及 GDSII 层映射、电源网络名称、电压源位置和标称值。对于门级分析,InVar 可读取 LEF、DEF 或 Verilog、Liberty 模型、SDC 时序、SPEF 寄生参数,以及 FSDB、VPD、SAIF 或 VCD 格式的开关活动数据。

输出至

用于后端物理验证的签核结果。提供用于假设场景探索的交互视图、文本报告、分析数据库,以及向下游传递结果的文件接口。

应用

适用于电源压降和发热决定设计能否可靠工作的场景。

模拟与混合信号设计的全芯片 IR 压降签核

大电流 IC 的热分析

使用 InVar Prime 在电源网格仍可调整时进行早期后端检查

显示器与传感器设计

验证数据与资源

先阅读数据手册,再查看 InVar Prime 如何分析尚未完成的版图。

产品简介 · PDF

2018 年 8 月

InVar 功耗、EM/IR 与热分析

数据手册介绍 InVar 系列、晶体管级和门级分析、各自所需的输入数据,以及面向版图工程师的早期分析工具 InVar Prime。

网络研讨会

2016 年 7 月

面向版图工程师的配电网络分析

规划阶段的 InVar Prime:定位初步版图中的 IR 压降和电流密度,并了解热分析结果如何指导布图规划。

产品简介 · PDF

2017 年 4 月

在设计周期早期抢先开展可靠性分析

介绍版图工程师如何在物理设计完成前,利用 InVar Prime 估计电迁移、IR 压降和温度。

用您自己的供电网络进行验证

请提供需要进行供电网络签核的模块或芯片,以及版图和提取
网表,查看如何在您的设计上同时求解 IR 压降与温度。

IR 压降与热分析常见问题

什么是 IR 压降分析?

IR 压降是电流流过芯片供电网络电阻时损失的电压,因此晶体管实际获得的电压低于标称供电电压。IR 压降分析描绘从封装连接端到各个器件的电压损失,显示哪些位置的电源压降足以使电路变慢或失效。

IR 压降分析确定电源电压损失的位置,热分析确定芯片发热的位置,两者相互影响。电流使金属和器件升温,温度又改变电阻和器件行为,进而再次改变电流。InVar 同时求解两者,因此结果已包含这一反馈过程。

不需要。InVar 使用真正的 SPICE 引擎直接仿真晶体管级设计,开始前无需已有的特征化库。请提供版图、提取网表和工艺文件。分析从这三项输入开始,因此刚完成提取的模块即可进行检查。

从单个单元到完整芯片均可。无需将层次化设计展平即可分析。InVar 为各模块建立模型,以保持较快运行速度和较低内存需求,再自底向上组合这些模型,获得不损失精度的全芯片结果。

电源网格绘制完成且布图规划仍可更改时运行一次,再在全芯片签核时运行。InVar Prime 负责早期分析,在规划期间根据版图数据估计 IR 压降、电流密度和热状况;InVar 则执行签核检查。

InVar 适用于所有工艺节点,包括 FinFET。所需的是该节点的 ITF 或 iRCX 格式工艺文件。评估前请将工艺信息告知我们的技术专家,他们将确认是否有相应文件。

SmartSpice

完整 SPICE 电路仿真

SmartSpice Pro

面向 SRAM 和 TFT 显示的 FastSPICE

SmartView

波形查看与分析

SmartSpice RadHard

单粒子效应与剂量率

Circuit Rubberband

SmartSpice 内置的实时调节功能