AI-Driven Manufacturing covers the process and device physics. AI-Driven Design covers the EDA tools, IP, verification and enablement.
Multiphysics from simulation to the fab floor
EDA tools, licensed IP, verification and enablement
Your market sets the physics problem
Find the technique for your problem
Process and device physics, from simulation to the fab floor
可在绘制波形的同时进行测量,无论结果是由 SmartSpice 实时传入,还是存储在数 GB 大小的 HSPICE、Spectre PSF 或 FSDB 文件中。
SmartView 可在仿真计算期间或运行结束后读取结果,将图表、测量和后处理集中在同一窗口。支持模拟、RF、数字和混合信号结果,还可同时比较多次运行,使失效工艺角在通过的工艺角中清晰显现。它集成于 Silvaco 自有流程,与 SmartSpice、SmartSpice Pro、Gateway 和数字仿真器配合使用,也可打开 HSPICE 和 Spectre 生成的文件。
大多数操作可通过鼠标完成。所有手动步骤均可编写脚本。
提供可定制工具栏、拖放功能和结果数据层次浏览器。可自行设置偏好与布局。
工作时可从界面向内置 JavaScript 解释器发送命令,也可将相同步骤写成脚本,批量处理一组结果。
支持笛卡尔图、直方图、极坐标图、Smith 圆图和数字图表,并提供用于 RF 分析的 Y 和 Z Smith 圆图及星座图。
可在共享 X 轴上堆叠曲线,也可将图表水平、垂直、平铺或以调色板方式排列。
提供 AB、数据、三角形、截面和 X 标记,以及探针和斜率工具。
标记可吸附至选定曲线,并随鼠标跨图表移动,使您无需离开图形即可读取和注释数值。
单项测量:平均值、导数、RMS、最小值和最大值。
复合测量:平均周期、交点、延迟、交越处求值、指定 Y 值处查找、过冲、周期和上升时间。
提供 FFT、眼图、抖动分析、ADC 工具和总线计算工具。
矢量计算器预载 SPICE 宏和函数,也支持您自行编写的函数。
可按平坦或层次化方式排列矢量,在绘图前筛选大型结果集。可直接比较运行结果,或在一张图表中显示多个并发仿真的历史记录。可顺利加载数 GB 大小的结果文件。
支持读取 SmartSpice、HSPICE、Spectre PSF(二进制和 ASCII)、FSDB、Touchstone、Harmony 和 Silos、VCD 及 Liberty 文件。
结果来自 Silvaco 仿真器及其他供应商的工具,图表和数值可输出至报告与自有脚本。
输入来自 Silvaco 和第三方仿真器的仿真结果。SmartSpice 可在运行期间向 SmartView 传输结果。其他结果从文件打开,包括 HSPICE、Spectre PSF、FSDB、Touchstone 和 VCD。
SmartSpice:运行期间或结束后的完整 SPICE 结果
SmartSpice Pro:来自 SRAM 和 TFT 显示电路的 FastSPICE 结果
Gateway:在原理图上调节参数,观察波形随之变化
输出图表和数据,用于报告及自有分析。可将带注释的图表导出为图像或复制到剪贴板,也可将底层数据保存为 ASCII,以供自有脚本读取。
Mobile Semiconductor 和 Silicon Creations 均在其设计流程中明确采用 SmartView。
存储器编译器特征化意味着数万次 SPICE 运行和数百条 .measure 语句。Mobile Semiconductor 使用 SmartView 合并和比较这些测量值,并调试对应波形。迁移至 SmartSpice 并采用 SmartView 调试后,其特征化时间减少了 50%。
Silicon Creations 的模拟与混合信号 IP 已在 7 至 180 nm 工艺上量产。在其 FinFET 设计流程中,SmartView 与 Gateway 和 Expert 配合使用。
两页内容涵盖图表类型、测量、后处理工具、支持格式,以及与 SmartView 集成的 Silvaco 工具。
支持与下载中的 SmartView 及其他电路仿真工具文档。
逐步介绍数据标记、探针、斜率、三角形和截面工具,还包含吸附网格,只需两次点击即可读取 20%–80% 上升时间。
模拟定制设计流程的更新,包括 SmartView 波形分析,以及 Gateway、Expert 和 Guardian。
来自 Simulation Standard 档案:介绍 SmartView 与 SmartSpice 如何协同构建。其功能集此后已发展,因此该文主要供了解设计思路。
请提供大到难以顺畅打开的结果文件,或每次运行后都要手动重新完成的测量。我们将展示 SmartView 如何处理。
波形查看器绘制电路仿真计算出的结果,例如随时间或频率变化的电压、电流和派生量,使您能够查看、测量并与其他运行结果比较。SmartView 是 Silvaco 的波形查看器,提供内置测量、FFT、眼图和多次运行比较功能。
可在 SmartSpice 运行期间实时读取结果,也可在结束后从文件读取。还支持 SmartSpice Pro 及 Silvaco 的其他电路和数字工具,包括 Gateway、SmartSpice RF、Harmony 和 Silos。其他供应商的结果也可从文件打开:模拟结果支持 HSPICE、Spectre PSF 和 FSDB,数字结果支持 VCD,S 参数支持 Touchstone。
模拟结果支持 SmartSpice .raw、HSPICE .tr、.ac 和 .sw、二进制或 ASCII 格式 Spectre PSF、FSDB 版本 4 和 5,以及 Touchstone S 参数文件。数字结果支持 Harmony 和 Silos .rawd,以及标准 VCD。还可读取 Liberty .lib 文件,将数据保存为 ASCII,并将图表保存为图像。
可以。可同时加载多次运行并逐条曲线比较,也可在同一图中查看并发仿真。比较前可筛选大型结果集,使关注的工艺角或蒙特卡洛样本不会被不需要的曲线淹没。
五项单项测量:平均值、导数、RMS、最小值和最大值。八项复合测量:平均周期、交点、延迟、交越处求值、指定 Y 值处查找、过冲、周期和上升时间。其他内容可通过标记和探针交互读取,自定义函数由矢量计算器处理。
可以。SmartView 既可实时跟随 SmartSpice 运行,也可打开已完成的结果。借助 SmartSpice 和 Gateway 中的 rubberband 调节,可在原理图上修改模型或实例参数,SmartView 波形会同步更新,无需等待新一轮运行。
面向 SRAM 和 TFT 显示的 FastSPICE
SmartView 可实时读取结果的完整 SPICE 仿真器
单粒子效应与剂量率
IR 压降与热分析
SmartSpice 内置的实时调节功能