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Viso: 기생 성분 분석, 탐색 및 디버깅

기생 성분 넷리스트를 불러와 시간이 오래 걸리는 포스트 레이아웃 시뮬레이션을 시작하기 전에 레이아웃이 어떤 넷에 악영향을 미치는지, 그 원인은 무엇인지 확인하세요.

넷리스트에서 직접 수행하는 기생 성분 분석

Viso는 RC 네트워크를 위한 Silvaco의 기생 성분 분석 도구입니다. 기생 성분 넷리스트를 입력하면 추출된 저항과 커패시턴스가 설계 성능을 저하시키는 지점을 보여줍니다. 누화, 약한 신호, 넷 대칭성 불균형, 지연 증가, IR 강하 각각의 원인을 추적합니다. 시뮬레이션 없이 넷리스트만으로 결과를 얻습니다.

측정, 탐색 및 검사할 수 있는 항목

모든 넷에 걸친 하나의 지표로 시작한 후, 레이어별로 상세히 살펴보며 원인이 되는 RC 구간까지 추적합니다.

분석

누화, 신호 약화, RC 지연, 넷 대칭성 및 IR 강하와 함께 핀 간 저항, 접근 저항, 전압 맵 및 복소 임피던스를 측정합니다. 차동 및 병렬 쌍을 포함하여 넷을 직접 비교합니다.

원하는 지점을 클릭하여 등가 저항이나 RC 지연을 즉시 확인하세요. 기본 오류 검사는 수초 내에 단락과 연결되지 않은 인스턴스를 표시합니다.

탐색

먼저 기생 성분에서 수정 효과를 시험하세요. 저항이나 비아를 제거하거나 추가하거나 값을 변경하고, 또는 전체 레이어의 비저항을 바꾼 후 레이아웃을 수정하지 않고 분석을 다시 실행합니다.

Viso는 각 결과를 좌우하는 요소를 레이아웃에 직접 표시합니다. 기생 성분 위에 GDSII 또는 OpenAccess 데이터를 중첩하고, 선택한 초기 조건으로 멀티핑거 핀을 병합합니다.

전력 네트워크

크기에 관계없이 전체 전력 네트워크를 불러옵니다. 디버깅이나 가정 변경 탐색을 위해 네트워크 전반의 저항, 지연 및 전압 강하를 매핑합니다. 기다려야 했던 전력 시뮬레이션을 생략할 수 있습니다.

처리 용량 및 인터페이스

100 GB가 넘는 기생 성분 넷리스트와 매우 큰 전력 넷을 불러와 2D 및 3D로 표시합니다.

Viso는 Cadence Virtuoso와 연동됩니다. 모든 분석은 명령줄에서도 실행할 수 있습니다. GUI에서 검증한 검사를 각 프로젝트의 배치 검증 스크립트로 활용할 수 있습니다.

형식

입력: DSPF, SPEF 및 SPICE 기생 성분 넷리스트, CalibreView 기생 성분 넷리스트, OpenAccess 추출 뷰.

출력: ASCII CSV 및 TSV 결과와 GUI에서 탐색할 수 있는 결과 데이터베이스.

실행 환경: Red Hat Enterprise Linux 7.9 및 8.x, SLES12 SP5, x86_64.

설계 플로에서 Viso의 위치

Viso는 두 시점에서 기생 성분을 검사합니다. 레이아웃이 아직 LVS 검증을 통과하기 전의
초기 추출 단계와 시뮬레이션 전 사인오프 추출 단계입니다.

입력

기생 성분 넷리스트만 있으면 됩니다. Hipex 또는 타사 추출기에서 생성한 DSPF, SPEF, SPICE, CalibreView 또는 OpenAccess 추출 뷰를 사용합니다.

Hipex: 동일한 플로에서 사용하는 Silvaco의 전체 칩 기생 성분 추출기

Cadence Virtuoso: Viso는 Virtuoso의 OpenAccess 데이터에서 기생 성분 뷰를 생성하고 레이아웃 또는 추출 뷰와 연결합니다. Viso에서 레이어를 숨기면 Virtuoso에서도 숨겨집니다.

출력 및 연계

발견한 문제에 대응하는 도구로 전달합니다.

PEX Certify: 추출 플로 자체에 문제가 있는 경우

Jivaro Pro: 진단 후 네트워크 축소

Expert: 레이아웃 수정

주요 활용 분야

시뮬레이션 전에 레이아웃 문제 발견

레이아웃을 변경할 수 있을 때 문제가 있는 넷을 정확히 찾고 수정 방안을 비교합니다.

전력 네트워크 디버깅 및 탐색

전체 전력망의 저항, 지연 및 전압 강하 맵.

누화 및 신호 무결성 검사

변경할 때마다 긴 시뮬레이션을 다시 실행하지 않고 고속 넷의 결합, 대칭성 및 지연을 확인합니다.

시뮬레이션하기에 너무 큰 설계 검사

가장 큰 설계도 처리할 수 있는 빠른 분석.

데이터시트, 슬라이드 및 발표

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문서

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Viso 문서

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문제가 발생하는 넷리스트로 시험해 보세요

목표를 충족하지 못하는 블록의 기생 성분 넷리스트를 보내주세요. 애플리케이션 엔지니어가 함께
Viso를 실행하여 레이아웃에서 문제를 일으키는 지점을 보여드립니다.

Viso 관련 질문

기생 성분 분석이란 무엇인가요?

기생 성분 분석은 레이아웃이 회로에 추가하는 저항과 커패시턴스를 조사하여 넷 간 누화, 약한 신호, 대칭성 손상, 추가 지연 및 IR 강하 등 성능 저하 지점을 찾습니다. Viso는 추출된 넷리스트에서 직접 분석을 실행하고 원인이 되는 요소를 레이아웃에 표시하여 수정할 부분을 알려줍니다.

예. Viso는 기생 성분 넷리스트만으로 저항, RC 지연, 누화, 넷 매칭 및 전압 강하를 직접 계산하며 기본 오류 검사는 수초 내에 완료됩니다. 레이아웃이 아직 LVS 검증을 통과하지 않았더라도 긴 포스트 레이아웃 실행 전에 설계를 검사하고 가정 변경을 통한 수정 방안을 시험할 수 있습니다.

Viso는 DSPF, SPEF, SPICE 및 CalibreView 형식의 기생 성분 넷리스트와 OpenAccess 추출 뷰를 읽습니다. Silvaco의 Hipex와 타사 추출기의 출력을 지원합니다. 결과는 스크립트용 ASCII CSV 또는 TSV 파일과 GUI에서 탐색할 수 있는 데이터베이스로 출력됩니다.

Viso는 100 GB가 넘는 기생 성분 넷리스트와 매우 큰 전력 넷을 받아 네트워크를 2D 및 3D로 표시합니다. 시뮬레이션하기에 너무 크다고 여겨지는 설계도 충분히 빠르게 분석하며, 명령줄 배치 또는 GUI 대화형 방식으로 실행할 수 있습니다.

예. Viso는 Virtuoso의 OpenAccess 데이터에서 기생 성분 뷰를 생성한 후, 레이아웃 또는 추출 뷰와 해당 Viso 데이터베이스 사이의 직접 연결을 유지합니다. Viso에서 레이어를 탐색하거나 표시 상태를 바꾸면 Virtuoso에도 반영되어 레이아웃과 기생 성분을 함께 탐색할 수 있습니다.

Hipex와 같은 추출 도구는 레이아웃에서 기생 성분을 계산하여 넷리스트에 기록합니다. Viso는 해당 넷리스트를 받아 설계에 미치는 영향을 보여줍니다. 어떤 넷이 약하거나 결합되거나 불균형하거나 느린지, 레이아웃의 어느 위치에 원인이 있는지 알려줍니다.

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