AI-Driven Manufacturing covers the process and device physics. AI-Driven Design covers the EDA tools, IP, verification and enablement.
Multiphysics from simulation to the fab floor
EDA tools, licensed IP, verification and enablement
Your market sets the physics problem
Find the technique for your problem
Process and device physics, from simulation to the fab floor
Silvaco 的 SRAM 编译器为 SoC 团队提供单端口和双端口嵌入式 SRAM IP,可在指定的 TSMC、GlobalFoundries 和 UMC 工艺上按实例配置,让存储器适配您的芯片,而非反过来。
选择符合功耗预算的版本,再围绕它构建存储器的其余部分。
可选择低功耗、通用或高性能版本。多种电源模式使您能在漏电与唤醒时间之间进行权衡,多种阈值电压(Vt)选项和工作模式则决定阵列运行速度。
设计优先考虑低功耗运行,并为面积约束更严格的场景提供高密度选项。55 nm、40 nm 及以下节点提供小睡、保持及小睡加保持模式。嵌入式电源开关支持更精细的控制,外围电路和核心可使用单电源或独立供电。
编译器经过全局和局部变异验证。可增加 ECC 位,并通过灵活的字宽和寻址方式实现冗余。还可按需增加可配置写掩码,以及内建自测试和修复(BIST/R)。
当前目录中有十二款编译器具有料号,覆盖 TSMC、GlobalFoundries 和 UMC 的 22 至 130 nm 工艺。其背后的技术涵盖 180、152、130、110、90、85、65、55、40、28 和 22 nm,支持 G、LP 和 SOI CMOS,以及高压、BCD 和 eFlash 工艺。若您的工艺未包含在其中,编译器可进行移植。
这些工作模式可使功耗最多降低 50%。分区阵列可延长电池续航,数据保持模式降低漏电流,高密度配置则节省面积。
空闲存储器仍会漏电。这些模式让您在漏电量与下次访问可等待的时间之间进行选择。
漏电以待机为基准,数据为 Silvaco 公布的 4Kx32 实例在典型角、1.2 V 和 25 °C 下的结果。55 nm、40 nm 及以下节点提供小睡、保持以及保持 + 小睡模式。具体编译器支持哪些模式,建议向 IP 专家确认。
Silvaco 的编译式存储器已应用于数百万片晶圆和数千款设计。请从晶圆代工厂和节点开始查找。若当前已有相应编译器,它就具有对应料号。
按晶圆代工厂和节点列出的 SRAM 编译器
容量表示每款编译器可生成的位数范围。表中没有您的工艺?请向 IP 专家咨询移植。
TSMC、GlobalFoundries 和 UMC 工艺上具有料号的编译器
已部署 Silvaco 存储器编译器
保持 + 小睡模式下相对于待机的漏电
编译式存储器设计经验
随每个完成特性表征且通过 DRC/LVS 检查的实例交付
按晶圆代工厂、节点和料号列出每款 SRAM 编译器,并提供各自的保持、容量、列复用和电源参数。
在一页中介绍低功耗标准单元和 SRAM 电源管理。
采用 Silvaco 存储器编译器构建的嵌入式存储器低功耗技术。
GlobalFoundries 55LPx 工艺上的低功耗基础 IP,该工艺也用于编译器 61263。
Silvaco 收购的超低功耗、高密度编译器已为 SoC 设计人员服务超过 25 年。
向 IP 专家说明您的晶圆代工厂、节点和所需 SRAM:容量、端口及电源模式。您将了解当前是否已有适用于该工艺的编译器、移植所需的工作,以及授权方式。
SRAM 编译器按设计规定的容量、列复用和字宽生成嵌入式 SRAM 实例,无需为每个存储器手工绘制版图。Silvaco 的编译器针对指定晶圆代工工艺,提供经过完整特性表征且通过 DRC/LVS 检查的单端口和双端口实例,并包含该工艺支持的电源模式。
单端口 SRAM 每周期处理一次读取或一次写入。双端口 SRAM 具有两个独立端口,可在同一周期执行两次访问,但需要更多面积。Silvaco 目录列出了七款单端口和五款双端口编译器,五款双端口编译器均适用于 TSMC 工艺。
具有料号的编译器覆盖 22、40、55、90、110 和 130 nm:GlobalFoundries 22FDX+ 和 55LPx、UMC 110 nm eFlash,以及 TSMC 40 至 130 nm 的低功耗、eFlash、高压和 BCD 工艺。Silvaco 更广泛的节点列表还包括 180、152、85、65 和 28 nm。若您的节点仍未列出,可咨询移植。
两者均为空闲 SRAM 的低功耗状态。小睡模式关闭外围电路并启用源极偏置,可在一个时钟周期内唤醒,漏电为待机的 0.69×;保持模式将核心电压降至能够保留数据的最低值,漏电为 0.54×。在 55 nm 及以下节点,结合两种模式可将漏电降至 0.28×。
支持,可作为选项提供。内建自测试和修复(BIST/R)可提高可靠性和良率,并与 ECC 位以及可配置字宽和地址所提供的冗余配合使用。编译器还经过局部和全局变异容忍度检查。
每个编译生成的实例均完成全面特性表征并通过 DRC/LVS 检查,提供设计流程所需的 Liberty 模型、LEF 抽象视图和 GDSII 版图。可采用单电源,或将外围电路与核心的供电分开,并在设计需要时提供写掩码。
1 端口和 2 端口寄存器文件
通孔编程 ROM 编译器
同一系列中的 SRAM、寄存器文件和 ROM 编译器
具备电源管理功能的低功耗单元和存储器