首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 设计 IP > AMBA IP AMBA IP 核与子系统：AXI、AHB 和 APB Silvaco 的 AMBA IP 为 SoC 团队提供全部三种总线：AXI、AHB 和 APB 控制器与外设、连接它们的互连与桥接器，以及五个预集成子系统。以可综合软 IP 形式提供，适用于 MCU

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 设计 IP > 基础 IP 基础 IP：标准单元、存储器编译器和接口 IP 通过授权获取而无需自行开发的基础 IP：标准单元库、存储器编译器和 I/O，针对指定晶圆代工工艺完成特性表征，并按您的 PPA 目标优化，而非面向目录中的平均需求。 咨询 IP 专家 下载 IP 目录 适配芯片需求的基础 IP 多数基础 IP

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 设计 IP > 可测试性 IP 可测试性：PHY IP 的全速内部环回 Mixel 的 D-PHY 发射器和接收器现已纳入 Silvaco，可在量产环节和最终系统中，在您的 SoC 内部以完整数据速率检查自身链路。 咨询 IP 专家 获取完整产品清单 将测试内置于 PHY，而非事后附加 过晚发现链路故障可能导致重新流片。如果 PHY

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 设计 IP > LVDS LVDS IP：低电压差分信号 PHY 由现已加入 Silvaco 的 Mixel 设计的 LVDS IP：兼容 TIA/EIA-644 的四通道串行器和解串器对，面向芯片需与 LVDS 面板、摄像头或工业设备通信的 SoC 团队。 咨询 IP 专家

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 设计 IP > 多标准 多标准 SerDes IP：组合式和可配置 PHY Silvaco 旗下公司 Mixel 提供多标准 SerDes IP，适用于您的 SoC 需要支持多种接口标准的场景。 咨询 IP 专家 获取产品清单（PDF） 按组合选择多标准 SerDes IP

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 设计 IP > MIPI MIPI IP：D-PHY、C-PHY 和 M-PHY 物理层 IP 来自 Mixel（Silvaco 旗下公司）的硅验证 MIPI IP，专为 SoC 设计打造，确保摄像头、显示或存储接口不会成为导致重新流片的原因。 与 IP 专家交流 获取 MIPI 部件列表

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 设计 IP 设计 IP：用于 SoC 开发、经过硅验证的半导体 IP 核 获取已在量产硅片中验证的 IP 核许可，从 Mixel MIPI PHY 到标准单元和存储器编译器，让工程师专注于只有您的团队才能构建的部分。 申请技术介绍 下载 PRO IP 目录 为什么选择许可 IP 核而非自行构建

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 模拟与定制 IC 设计 > PEX Certify PEX Certify：认证和比较寄生参数提取流程 PEX Certify 可逐个网络展示 PDK 或提取器变更后寄生参数提取流程的结果是否仍与此前一致，在签核依赖该流程之前完成验证。 咨询我们的技术专家 阅读文档 PEX Certify 的功能 PEX Certify 比较两个提取网表，指出它们的差异位置和差异大小。答案直接来自寄生参数本身，无需执行任何电路仿真。每个新 PDK、提取器版本或流程设置都会引入一次团队必须信赖的提取，而其背后的寄生网络过于复杂，无法仅凭查看加以判断。PEX Certify

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 模拟与定制 IC 设计 > VarMan XMA VarMan XMA：全芯片存储器良率分析 估计整个存储器的良率，而非仅分析其中的切片。VarMan XMA 重建完整阵列并对其执行蒙特卡洛分析，使报告的良率来自仿真而非外推。 咨询我们的技术专家 文档 VarMan XMA 的功能 VarMan XMA 利用您的基准 SPICE 仿真器，对整个存储器进行良率分析。通常，在完整规模下执行此类分析并不现实，因此常见的替代方法是仿真一个切片或关键路径，再外推结果。误差正是来自这种外推。Fast SPICE 以精度换取运行时间，而将各模块的

首页 > 产品与工作流程 > AI 驱动设计 > 模拟与定制 IC 设计 > VarMan VarMan：面向模拟设计、单元库和存储器的统计工艺变异与良率分析 在硅片结果揭晓前了解电路在工艺变异下的表现，以最高 30X 的速度获得蒙特卡洛精度的结果。 咨询我们的技术专家 文档 VarMan 的功能 设计可能通过典型工艺角检查，却仍无法在实际硅片中达到目标良率。如果流片后才发现，就需要承担重新流片的成本。VarMan 对模拟设计、单元库和存储器进行工艺变异与良率分析，使问题在仍可修改设计时显现。暴力蒙特卡洛方法可能需要数百万或数十亿次运行才能给出答案。存储器位单元可能需要验证至 7 sigma 甚至更高。VarMan 利用机器学习和统计采样选择值得仿真的情况，最高可将速度提升至 30X。 功能 提供七种分析，已在先进节点的 FinFET