플렉서블 전자제품을 위한 SPICE 모델링

2018년 12월 7일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) 플렉서블 전자 회로 설계 및 물리적 검증에서 기계적 변형을 고려하여 TFT 및 MOSFET SPICE 모델을 처리하는 이론 및 방법을 소개합니다.

VarMan을 사용한 메모리 통계 특성화 솔루션

2018년 9월 21일 | 2:00am-2:30am (한국 시각) VarMan은 Variability eXplorer, 하이-시그마 Yield Estimation, 하이-시그마 Performance Limit, eXtreme Memory Analysis 등을 포함합니다. 높은 정확성을 유지하면서도 메모리 특성화와 품질 보증에 필요한 시뮬레이션 횟수를 크게 줄여, 변동성이 존재하는 상태에서 설계와 특성화를 구현합니다.

GaN HEMT 소자에 대한 TCAD 기반 모델 추출 플로우 – 1부

2018년 7월 20일 | 2:00am-2:30am (한국 시각) GaN HEMT 소자에 대한 모델 파라미터 추출 방법을 제시합니다. Verilog-A 및 시뮬레이터 내장 모델에 대한 논의를 통해, GaN HEMT 소자에 대한 현재의 SPICE 컴팩트 모델을 검토합니다.

VarMan에 의한 표준 셀 통계 특성화

2018년 3월 1일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) VarMan은 Fast Monte Carlo, Variability eXplorer, 하이-시그마 Yield Estimation, 하이-시그마 Performance Limit, Library VarMan 등을 포함합니다. 높은 정확성을 유지하면서도 표준 셀 라이브러리 특성화와 품질 보증에 필요한 시뮬레이션 횟수를 크게 줄여, 변동성이 존재하는 상태에서 설계와 특성화를 구현합니다.

VarMan을 이용한 아날로그 설계의 통계 분석 플로우

일시: 2016년 11월 11일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) VarMan은 아날로그 설계자를 위한 구체적인 통계 분석을 포함합니다. 아날로그 셀 또는 AMS/RF IC를 신속하게 분석할 수 있도록, 혁신적인 몬테 카를로 부스터를 내장하였습니다. 몬테 카를로보다 빠른 VarMan은 주어진 시간 내에서 변동성 문제를 해결할 수 있도록 합니다.