Daily Archives: 2017年2月17日

Home > Search Results For

February 17, 2017

Know how your circuit behaves across process variation before silicon tells you, with Monte Carlo-accurate results up to 30X faster.

Resources Hub
Products Hub

10 years ago

総線量、放射線流による損傷、即発線量およびSEUのTCADシミュレーション

このウェビナーでは、宇宙空間または高エネルギー粒子や光子源付近など、一般的な4つの放射線環境下でエレクトロニクス・デバイスを使用した場合に発生する動作特性の変化について、酸化膜電荷や物理的損傷などを含む具体的なシミュレーション方法を取り上げます。