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Analog Custom Design & Analysis
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Variation & Yield Analysis
Machine Learning in the EDA-Specific Domain – 20 Years in the Making
Memory Statistical Characterization Solution with VarMan
Standard Cell Statistical Characterization with VarMan
Statistical Analysis Flow for Analog Design with VarMan
Variation aware design for advanced nodes and low power technologies


利用FTCO™和数字孪生技术加速面向制造的硅光集成电路仿真
/在: TCAD Webinars, Webinars /通过: Gigi Boss2026年7月9日 10:00AM CST
面向 GAA-NS-FET 全器件尺寸设计探索与优化的快速集成量子输运解决方案
/在: TCAD Webinars, Webinars /通过: Gigi Boss视频回放已上线
加速下一代功率技术
/在: TCAD Webinars, Webinars /通过: Gigi Boss视频回放已上线
构建更优、更快的先进逻辑器件:从工艺到器件仿真、校准及 FTCO™ 工作流
/在: TCAD Webinars, Webinars /通过: Gigi Boss视频回放已上线
(中文研讨会)利用TCAD与基于物理的数字孪生技术加速GaN器件设计
/在: TCAD Webinars, Webinars /通过: Serena Liu视频回放已上线