近期网络研讨会
往期网络研讨会
Analog Custom Design & Analysis
Design IP
SPICE Modeling
SPICE Simulation
TCAD
Variation & Yield Analysis
Machine Learning in the EDA-Specific Domain – 20 Years in the Making
Memory Statistical Characterization Solution with VarMan
Standard Cell Statistical Characterization with VarMan
Statistical Analysis Flow for Analog Design with VarMan
Variation aware design for advanced nodes and low power technologies
如何利用 Victory Analytics 和机器学习校准 TCAD 数据
/在: TCAD Webinars, Webinars /通过: Gigi Boss2024年12月12日
在本次研讨会中,我们将为您展示一种 ML 和 TCAD 相结合的策略,深入校准 TCAD 参数,使得 TCAD 仿真结果与实验数据更一致。
如何以原子级精度仿真二维TMD沟道FET?
/在: TCAD Webinars, Webinars /通过: Gigi Boss2024年9月26日
在本次研讨会上,我们将为您介绍仿真软件Victory Atomistic,它以量子力学理论为基础,为专业TCAD环境中的二维晶体管原型开发提供了有力的支持。
美光科技:如何利用Silvaco的FTCOTM平台进行存储技术的开发和制造
/在: TCAD Webinars, Webinars /通过: Gigi Boss2024年8月29日
在本次网络研讨会上,我们将为您介绍美光科技如何利用Silvaco的FTCOTM(Fab Technology Co-Optimization)平台来优化半导体工艺,以开发和制造先进的存储器。