低信号电气噪声不可避免，其成因在于器件内部过程的随机波动，例如热波动导致的载流子密度微观变化，以及产生-复合速率的统计波动。 此类噪声可能干扰电路预期行为，因此建模器件产生的噪声至关重要。了解噪声在器件中的具体产生位置亦具有重要意义，这有助于设计低噪声器件。Victory Device采用阻抗场法进行噪声计算。