SmartSpice RadHard Radiation Effects Circuit Simulator

SmartSpice RadHard 아날로그 회로 시뮬레이터는 싱글 이벤트 효과(SEE) 및 선량률(DR)에 의한 방사선 효과의 모델링 및 분석 시뮬레이션을 가능하게 합니다. SmartSpice 아날로그 회로 시뮬레이터에 따라 구축된 최신 전자 기기의 설계, 최첨단 반도체 기술의 분석에 필요한 정밀도, 기능 및 성능을 제공합니다.

특징

.RAD문을 사용하여 과도 해석 및 DC 해석에 의한 고정밀 선량률(DR) 및 SEE 분석
업계에서 검증된 SmartSpice 아날로그 회로 시뮬레이터의 확장
개선된 Wirth & Rogers’ 모델과 옵션의 사용자 정의 모델에 의한 선량률 분석
개선된 Messenger 모델과 옵션인 사용자 정의 모델에 의한 싱글 이벤트 업셋(SEU)과 멀티 비트 업셋(MBU) 분석
회로를 최적화하여 설계 회로의 방사선 내성을 향상시키고 시스템 사양에 필요한 설계 트레이드 오프의 복잡한 분석이 가능
파운드리 제공의 벌크 CMOS, SOI, 바이폴라, biCMOS 공정을 위한 HSPICE®, PSPICE®, SmartSpice 표준 모델 지원
개방형 모델 개발 환경 및 Verilog-A 옵션으로 아날로그 동작 기능의 확장
사용자 정의 모델 및 시뮬레이터 제어의 앞선 ‘what if’ 기능으로 신규 발생되는 현상의 연구에 대응
SmartSpice RadHard와 실바코 방사선 툴 플로우와의 완벽한 통합을 통해 프로세스 모델링 디바이스 시뮬레이션, 회로 분석, 물리적 레이아웃 및 칩의 기생 효과를 연결하고 재현성있는 물리학 기반의 환경을 제공하고 방사선 신뢰성 높은 영향을 검증