VarMan XMA Option Full-chip Memory Yield Analyzer
상당한 규모로 인해 전체 메모리의 SPICE 시뮬레이션을 만드는 것은 대단히 어려운 일입니다. 기존 솔루션은 메모리 조각 또는 주요 경로를 추출하여 시뮬레이션하고, 제한된 몬테 카를로 분석을 수행하여 결과를 추론하는 방식입니다. 이 경우 수율 예측에서 상당한 오류를 일으킬 수 있습니다. Fast Spice 시뮬레이션은 실용적이지만, 정확도가 떨어질 수 있습니다. 개별적인 블록 시그마-코너를 결합하는 수치적인 방법은 비현실적인 결과를 초래할 수 있습니다.
전체 메모리에 대해 몬테 카를로 분석 실행
VarMan XMA는 임계 경로 또는 메모리 조각만 분석하지 않습니다. 이 혁신적인 솔루션은 전체 메모리를 고려하여 변동 영향을 분석하고, 몬테 카를로 분석을 수행하여 수율을 예측합니다.
XMA는 직관적이고 사용하기 쉬운 솔루션으로서 일반 SPICE를 통해 메모리를 재구축하고 디자인을 시뮬레이션할 수 있습니다. VarMan Memory에 대한 옵션입니다.
VarMan XMA는 매우 효율적인 변동-인식 분석을 수행할 수 있습니다. VarMan의 혁신적인 Fast Monte Carlo 및 강력한 하이-시그마 커널을 사용하여, 장애를 빠르게 감지하고 전체 메모리 수율을 예측합니다.
XMA 옵션 특징:
- 고급스럽고 직관적인 GUI
- 몇 분내에 전체 메모리 분석
- 평면 CMOS, FDSOI 및 FInFET 파운드리 기술에 대한 검증
- 업계의 일반적인 SPICE 회로 시뮬레이터와 연동
- 수율 추정에 대한 변동의 영향을 통계적으로 종합적인 분석
SRAM 적용 예
- 메모리 셀 당 8K x 80 비트를 갖는 SRAM
- 10만 메모리 인스턴스를 커버하는 1만 시뮬레이션
- 100K x 8192 x 80 = 65,536M 실행에 해당하는 10만 인스턴스
- 2 개 실패 감지
EDA 분야에서의 머신 러닝 – 20년에 걸친 노력
VarMan을 사용한 메모리 통계 특성화 솔루션
VarMan에 의한 스탠더드 셀 통계 특성화
VarMan을 이용한 아날로그 설계의 통계 분석 플로우
고급 노드 및 저전력 기술을 위한 변동 인식 설계