VarMan에 의한 표준 셀 통계 특성화
각각의 새로운 반도체 공정 노드에서, 전체적 혹은 부분적 공정 변동은 표준 셀 라이브러리의 성능 결정에 점점 중요한 영향을 끼치고 있습니다. 공급 전압 및 온도 변동을 고려하면, 3-시그마 공정 코너를 찾거나 6-시그마 검증을 수행하는 기존의 접근방식은 필요한 시뮬레이션 횟수가 너무 많아져서 실용적이지 않습니다. 이번 시간에 실바코의 VarMan이 이러한 문제점을 어떻게 해결하는지 소개합니다. VarMan은 Fast Monte Carlo, Variability eXplorer, 하이-시그마 Yield Estimation, 하이-시그마 Performance Limit, Library VarMan 등을 포함합니다. 높은 정확성을 유지하면서도 표준 셀 라이브러리 특성화와 품질 보증에 필요한 시뮬레이션 횟수를 크게 줄여, 변동성이 존재하는 상태에서 설계와 특성화를 구현합니다.
다음 사항을 살펴봅니다.
- 표준 셀 통계 특성화의 핵심 과제
- 수많은 공정 코너
- 워스트 케이스 조건 탐색의 어려움
- 하이-시그마 검증에 수많은 시뮬레이션 필요
- 부분적 불일치에 의한 복잡한 상황
- 표준 셀 통계 특성화와 관련된 통계의 개요
- 표준 셀 라이브러리 특성화에 대한 VarMan 적용
- Fast Monte Carlo
- Variability eXplorer
- 하이-시그마 성능 한계 및 수율 분석
- Library VarMan
발표
Prashant Singh 박사는 실바코의 애플리케이션 엔지니어로서 회로 검증 및 품질 보증을 맡고 있습니다. MIT 전기공학과에서 물리학 학사 학위를 취득한 후, General Electric Company에서 근무하면서 에디슨 엔지니어링 프로그램을 수료하였습니다. 렌셀러 폴리테크닉 대학교에서 전기공학 석사 및 박사 학위를 취득하였습니다. 루슨트 테크놀로지스에서 고속 광전자 부품과, LSI 코퍼레이션, Qlogic, Koolchip, Invecas용 고속 직렬 인터페이스를 개발하였습니다.
일시: 2018년 3월 1일
장소: 온라인
시각: 3:00am-3:30am (한국 시각)
언어: 영어
참석 대상
표준 셀 라이브러리 특성화의 효율성과 정확성 향상에 관심있는 설계 및 검증 엔지니어 및 관리자