• Webinars

고급 노드 및 저전력 기술을 위한 변동 인식 설계

FinFET, FDSOI와 같은 공정 기술의 발전과 Vdd/Vth의 저하에 따라, 특성화 및 검증 작업이 더욱 중요하게 되었습니다. 그 결과, 수율의 요구사항을 충족하기 위해 몬테 카를로 시뮬레이션을 보편적으로 사용하게 되었습니다. 몬테 카를로는 정확하지만, 소요 시간과 시뮬레이션의 라이센스 측면에서 현실적이지 않습니다. 현실적인 변동을 인식하기 위해서는 보다 효율적인 기법이 필요합니다.

실바코의 VarMan은 아날로그 셀, AMS/RF IC의 신속한 검사를 위해 혁신적인 몬테 카를로 기법을 제공합니다. 메모리 비트 셀, 로직 표준 셀처럼 복제된 설계 요소에 대해 강력한 하이 시그마 조사를 수행할 수 있습니다. VarMan의 혁신적인 샘플링 기법은 고속, 저비용으로 변동에 대한 문제를 해결하는 데 도움이 됩니다.

이번 시간에 아래와 같은 사항을 살펴봅니다.

  • 변동을 고려하기 위한 설계 상의 과제
  • 몬테 카를로의 실무, 효율성과 리스크 최소화 방법
  • 아날로그에 대한 변동 인식 설계
  • 메모리 및 표준 셀에 대한 변동 인식 설계

발표

Pierre Faubet 박사는 공정 변동성 그룹의 선임 R&D 엔지니어입니다. 2011년 실바코 / Infiniscale에 입사하여, 변동 인식 설계를 위한 효율적이고 실용적인 솔루션을 개발하였습니다.

실바코에 입사하기 전에, 그는 광학 CAD 엔지니어들을 위한 시뮬레이션 및 임베디드 소프트웨어를 개발하였습니다. 프랑스 그레노블의 Joseph Fourier 대학에서 생물-통계/정보학 석사, 집단 유전학 박사 학위를 취득하였습니다.

일시: 2016년 4월 1일
장소: 온라인
시각: 3:00am-4:00am (한국 시각)
언어: 영어

참석 대상

IC 설계자, CAD 엔지니어, 변동 인식 설계 솔루션에 관심있는 관리자