先端プロセスと低電力テクノロジーのためのばらつき考慮設計
配信開始日: 2016年4月1日
設計検証作業は、FinFETやFDSOIなどの微細化技術と低Vdd/Vthを使った低消費電力設計においてますます重要なものとなっています。その結果、歩留まり要件を満たすロバストな設計を行うために、モンテカルロ・シミュレーションを大量に使用することが一般的な手段となってきました。総当り式モンテカルロ解析は正確であるとはいえ、時間とシミュレーション・ライセンスが多く必要になるという点で実用的ではありません。実用的なばらつき考慮設計には、もっと効率の良い技術が求められています。
シルバコのVariation Managerは革新的なモンテカルロ技術により、アナログセルやAMS/RF ICを高速に検証できます。メモリビットセルや論理標準セルのように多くの繰り返し要素を持つ設計に対してもロバストな高シグマ解析を可能とします。Variation Managerの革新的なサンプリング技術により、設計者はばらつきの問題をより速く、かつ低コストに解決できます。
セミナー概要
- ばらつきを要因とする設計課題
- モンテカルロの実践 ― 効率的でリスクを最小化する方法
- アナログのためのばらつき考慮設計
- メモリセルと標準セルのためのばらつき考慮設計
プレゼンタ
Pierre Faubet博士は、シルバコのばらつき考慮設計部門の研究開発シニア・エンジニアです。2011年よりばらつき考慮設計のための効果的で実用的なソリューションを開発しています。
それ以前、同氏は光学エンジニア向けのシミュレータ開発とエンベデッド・ソフトウェア開発に従事しました。フランス、グルノーブルのジョセフ・フーリエ大学で生物統計学とインフォマティクスで科学修士号、集団遺伝学で博士号を取得しています。
[日本時間]
開催日: 2016年4月1日
配信: オンライン
開催時間: 2:00am-3:00am JST
言語: 英語
対象
ばらつき考慮設計のソリューションを求めるIC設計者、CADエンジニア、マネージャー。