ばらつき考慮設計

アドバンスド・テクノロジ・ノードにおけるプロセスのばらつきは、IC設計者にとって重要な課題となっています。アナログ、RF、スタンダードセル、IO、メモリの設計者にとって、従来のモンテカルロ解析を超える効率的で信頼性の高いソリューションを提供する新世代のツールが求められています。設計者が統計的なプロセス変動に正確に対応し、正しい設計判断を前もって行うことができる包括的で新しいツール群が必要です。VarManツール群は、設計者が統計学の専門家でなくても、プロセスのばらつきが設計に与える影響を理解し、最適化することを可能にします。

VarManの革新的な技術は、高度な機械学習アプローチを用いて、精度と正確さを維持しながら、従来のモンテカルロシミュレーションと比較して最大30倍のシミュレーション性能を実現します。ハイシグマが要求される設計において、VarManは、設計チームが精度を重視した解析を容易に実現できるようにします。VarManは、キャラクタライズ・プロジェクトのセットアップを簡素化するように設計されており、設計者がセットアップと実行を行う手間がかかりません。フルチップのXMAメモリの歩留まり解析では、VarManの革新的な高速モンテカルロとロバストなハイシグマ・カーネルを使用して、メモリ全体の高速なフェイル検出と歩留まり推定を行います。