VarMan을 사용한 메모리 통계 특성화 솔루션
2018년 9월 21일 | 2:00am-2:30am (한국 시각)
VarMan은 Variability eXplorer, 하이-시그마 Yield Estimation, 하이-시그마 Performance Limit, eXtreme Memory Analysis 등을 포함합니다. 높은 정확성을 유지하면서도 메모리 특성화와 품질 보증에 필요한 시뮬레이션 횟수를 크게 줄여, 변동성이 존재하는 상태에서 설계와 특성화를 구현합니다.
VarMan을 이용한 아날로그 설계의 통계 분석 플로우
일시: 2016년 11월 11일 | 3:00am-3:30am (한국 시각)
VarMan은 아날로그 설계자를 위한 구체적인 통계 분석을 포함합니다. 아날로그 셀 또는 AMS/RF IC를 신속하게 분석할 수 있도록, 혁신적인 몬테 카를로 부스터를 내장하였습니다. 몬테 카를로보다 빠른 VarMan은 주어진 시간 내에서 변동성 문제를 해결할 수 있도록 합니다.
고급 노드 및 저전력 기술을 위한 변동 인식 설계
일시: 2016년 4월 1일 | 2:00am-2:30am (한국 시각)
실바코의 VarMan은 아날로그 셀, AMS/RF IC의 신속한 검사를 위해 혁신적인 몬테 카를로 기법을 제공합니다. 메모리 비트 셀, 로직 스탠더드 셀처럼 복제된 설계 요소에 대해 강력한 하이 시그마 조사를 수행할 수 있습니다. VarMan의 혁신적인 샘플링 기법은 고속, 저비용으로 변동에 대한 문제를 해결하는 데 도움이 됩니다.