2018년 12월 12일 | 3:00am-3:30am (한국 시각)
NEMO는 NEGF (Non-Equilibrium Greens Function Formalism)와 원자의 강력한 결합을 오늘날의 최첨단 소자 모델링으로 확립하였습니다. NEMO의 연구 개발은 항상 실험적인 소자 검증과 연계되었습니다. 이번 시간에 나노미터 수준에서 밴드 구조가 어떻게 변경되는지, 그리고 소자의 성능에 어떤 결과를 가져오는지 설명합니다.
2018년 12월 7일 | 3:00am-3:30am (한국 시각)
플렉서블 전자 회로 설계 및 물리적 검증에서 기계적 변형을 고려하여 TFT 및 MOSFET SPICE 모델을 처리하는 이론 및 방법을 소개합니다.
2018년 11월 30일 | 3:00am-3:30am (한국 시각)
MIPI Alliance – I3C의 새로운 표준에 대한 논의합니다. I2C와 SPI 등의 기존 인터페이스를 통합 및 확장하고, 강력한 기능을 새로 추가하여 모바일, 오토모티브, IOT 애플리케이션을 지원합니다. 실바코는 I3C의 고성능 및 저전력을 활용할 수 있는 다양한 제품을 제공합니다.
As process nodes continue to shrink, the requirement for additional physics is gradually creeping into each stage of the design process. By way of illustration, TCAD simulations are becoming more atomistic in nature, SPICE models are becoming process-aware to take account of localized strain effects, and back or middle end of line (BEOL and MEOL) parasitics are moving from exclusively 2D rule based solutions to full 3D structure field solvers for numerous critical sections of the layout.
The previously standalone Stellar GUI based field solver tool for parasitic extraction is now integrated into Hipex (Silvaco’s full chip extraction tool) in Expert GUI. In Hipex, user can choose proper extraction method (including Steller solver) among different approaches. The GUI of Expert (Silvaco’s layout editor) has been extended to provide technology setup for Stellar mode of Hipex. Also, Expert provides full functional features of GDS drawing, editing and rule checking. As opposed to the Clever field solver based on adaptive meshing, Stellar can handle very large layout size with less memory and reduced runtime with acceptable accuracy (as compared to Clever). Clever, as very accurate adaptive meshing field solver, can be used as reference accuracy check when Stellar or rule based parasitic extraction method is performed in Hipex. In this article, we will review the basic interface of Hipex in Expert GUI using Stellar as a field solver to extract capacitance in touch panel example.
We have demonstrated in previous articles the static electrical and optical simulation of LC cells [1][2]. The last piece of the function for a comprehensive analysis of an LC pixel is the capability of performing transient simulation. In this article, we will show the dynamic calculation of the LC director and the combination of electrical and optical simulation.
OBJECTIVE
Add an impurity (H) to a material (silicon) for a diffusion model (Fermi).
The description below refers to Victory Process version 7.27.X.
2018년 9월 21일 | 2:00am-2:30am (한국 시각)
VarMan은 Variability eXplorer, 하이-시그마 Yield Estimation, 하이-시그마 Performance Limit, eXtreme Memory Analysis 등을 포함합니다. 높은 정확성을 유지하면서도 메모리 특성화와 품질 보증에 필요한 시뮬레이션 횟수를 크게 줄여, 변동성이 존재하는 상태에서 설계와 특성화를 구현합니다.
2018년 8월 22일 | 3:00am-3:30am (한국 시각)
이번 시간에 FPD 레이아웃의 설계 생산성을 높이기 위한 실바코의 레이아웃 에디터, Expert의 새로운 기능을 소개합니다.
2018년 7월 20일 | 2:00am-2:30am (한국 시각)
GaN HEMT 소자에 대한 모델 파라미터 추출 방법을 제시합니다. Verilog-A 및 시뮬레이터 내장 모델에 대한 논의를 통해, GaN HEMT 소자에 대한 현재의 SPICE 컴팩트 모델을 검토합니다.