VarMan을 사용한 메모리 통계 특성화 솔루션
각각의 새로운 반도체 공정 노드에서, 전체적 혹은 부분적 공정 변동은 메모리 성능의 결정에 점점 중요한 영향을 끼치고 있습니다. 공급 전압 및 온도 변동을 고려하면, 6-시그마 이상 검증을 수행하는 기존의 접근방식은 필요한 시뮬레이션 횟수가 너무 많아져서 실용적이지 않습니다. 이제 정밀하고 합리적인 실행시간을 갖춘 7-시그마 검증이 실제로 필요합니다.
이번 시간에 실바코의 VarMan이 이러한 문제점을 어떻게 해결하는지 소개합니다. VarMan은 Variability eXplorer, 하이-시그마 Yield Estimation, 하이-시그마 Performance Limit, eXtreme Memory Analysis 등을 포함합니다. 높은 정확성을 유지하면서도 메모리 특성화와 품질 보증에 필요한 시뮬레이션 횟수를 크게 줄여, 변동성이 존재하는 상태에서 설계와 특성화를 구현합니다.
다음 사항을 살펴봅니다.
- 메모리 통계 특성화의 주요 과제
- 탐색할 수 있는 다양한 공정 코너 및 전압 포인트
- 새로운 기술과 고급 노드 및 부분적 불일치에 의한 복잡한 상황으로 민감도가 크게 증가
- 하이-시그마 검증에 수많은 시뮬레이션 필요
- 전체 메모리의 분석이 궁극적인 목표
- 하이-시그마 결과에 대한 신뢰
- 메모리 통계 특성화와 관련된 통계의 개요
- 메모리 특성화에 VarMan 적용
- Variability eXplorer
- 하이-시그마 성능 한계 및 수율 분석
- eXtreme Memory Analysis
발표
Jean Pastriete Duluc 박사는 실바코에서 VarMan 제품 개발을 담당하는 애플리케이션 엔지니어입니다. 1999년에 실바코에 특성화 및 모델링 소프트웨어 Utmost의 지원 엔지니어로 입사하였습니다. 연구소에서 신세대 특성화 모델링 애플리케이션, Utmost IV와 통계적 모델 생성 툴, Spayn 프로젝트를 이끌었습니다. 박사 과정중에 IC의 성능 지수에 대한 공정 변화 영향에 대해 연구하였습니다.
Duluc 박사는 프랑스의 보르도 대학에서 마이크로 전자공학 석사 및 박사 학위를 받았습니다.
일시: 2018년 9월 21일
장소: 온라인
시각: 2:00am-2:30am (한국 시각)
언어: 영어
참석 대상
메모리 통계 특성화의 효율성과 정확성 향상에 관심있는 설계 및 검증 엔지니어 및 관리자