Utmost IVによるLeti-NSPモデルを使用したナノシートのモデル抽出フロー
配信開始日: 2020年8月3日
Leti-NSPは、先進的なマルチゲートMOSFETの革新的モデルです。本モデルは、積層または垂直チャネル・ナノシート/ナノワイヤ、およびFinFETなどの最先端デバイスに対応します。本ウェビナーでは、このモデルに基づいて垂直方向に積層されたナノシートのパラメータを抽出する手法を提示します。抽出フローは、シルバコのモデリング・ソフトウェアであるUtmost IVに実装されています。ここでは、Utmost IVに実装された特徴に注目しながら、抽出フローを段階的に説明します。ビルトイン・モデルに加えてVerilog-Aバージョンのモデルをシルバコの回路シミュレータであるSmartSpiceに実装することにも対応します。
内容:
- Leti-NSPモデルを使用した垂直方向に積層されたナノシート のモデル・パラメータ抽出
- Utmost IVに実装されている抽出フローの段階的な説明
- Leti-NSPモデルのVerilog-Aバージョンとビルトイン・バージョンの比較
Presenter
Bogdan Tudor博士は、シルバコ、Device Characterization Groupの統括責任者です。R&D、フィールド・オペレーション、モデリング・サービスなど、Device Characterization Groupの活動すべてを取りまとめています。Tudor博士は、EDAおよびSPICEモデリングの分野での15年以上にわたる経験、そしてデバイス・キャラクタライゼーション、コンパクト・モデル開発、MOSFET経年劣化、信頼性解析、ソフトウェア開発の幅広い知識を持ちます。Tudor博士は、ルーマニアのブカレスト工科大学で、電気工学の修士号、マイクロエレクトロニクスの博士号を取得しています。
対象
ナノシートなど先進的なMOSFETデバイスのSPICEモデリング手法、Verilog-Aベースのモデル抽出、SPICEモデル抽出および最適化にご興味をお持ちのエンジニア、マネージャ、および研究者
[日本時間]
開催日: 2020年7月31日
配信: オンライン
開催時間: 2:00am-2:30am JST
言語: 英語