• Variation & Yield Analysis

Variation-Aware Design

첨단 기술 노드에서 공정의 변동 가능성은 IC 설계자에게 중요한 과제가 되었습니다. 기존의 몬테 카를로 분석을 넘어서, 아날로그, RF, 표준 셀, IO 및 메모리 설계자에게 효율적이고 신뢰성 있는 솔루션을 제공하는 차세대 툴이 필요합니다. 설계자가 통계적으로 공정의 변동을 정확하게 해결하고, 설계에 대해 미리 적합한 결정을 할 수 있는 포괄적인 신규 툴 셋트가 필요합니다. VarMan은 설계자가 설계에 미치는 공정 변동의 영향을 이해하고 최적화할 수 있도록 도움을 줍니다.

VarMan의 혁신적인 기술은 최신 머신러닝 접근 방식에 따라 정확도와 정밀도를 유지하면서 기존의 몬테 카를로 시뮬레이션에 비해 최대 30배 향상된 시뮬레이션 성능을 제공합니다. VarMan을 통해 요구 사항이 높은 설계에 대해, 정밀도에 기초한 분석을 쉽게 달성할 수 있습니다. 특성화 프로젝트의 설정을 단순화하도록 설계되었으므로, VarMan은 설정 및 실행에 설계자의 노력이 거의 필요없습니다. 전체 칩의 XMA 메모리 수율 분석에서 VarMan의 혁신적인 고속 몬테 카를로와 강력한 하이 시그마 커널을 사용하여 실패를 신속하게 감지하고, 전체 메모리의 수율을 예측합니다.

공정 변동 및 수율 분석 자료

VarMan에 의한 표준 셀 통계 특성화

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Customer Interview: Why I Rely on SmartSpice

고객의 평가

Frédéric Masson
 This is the solution we were impatiently awaiting. Simulating a whole memory and analyzing accurately and quickly its yield has been a lastingly longed-for feature. 
Emmanuel Sabonnadiere
 Setting up advanced methods is essential with emerging technologies developed by CEA-Leti and the increase of memories’ needs. If a new method allows characterizing memory designs more quickly at a given condition of use, the entire characterization process that covers all conditions is accelerated